半導(dǎo)體器件高溫工作壽命試驗(yàn)
健明迪檢測提供的半導(dǎo)體器件高溫工作壽命試驗(yàn)，試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.23半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第23部分：高溫工作壽命 ，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分：總則
GB/T 4937.23半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
IEC 60749- -23： 2010半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
IEC 60747 （所有章節(jié)） 半導(dǎo)體器件-分立器件和集成電路
IEC 60749-34： 半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法-第34部分：功率循環(huán)（間歇壽命）
GB/T 4937.23半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
IEC 60749- -23： 2010半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
IEC 60747 （所有章節(jié)） 半導(dǎo)體器件-分立器件和集成電路
IEC 60749-34： 半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法-第34部分：功率循環(huán)（間歇壽命）
試驗(yàn)背景
高溫工作壽命測試是很通用的可靠性測試方式之一，幾乎所有的半導(dǎo)體器件都會(huì)經(jīng)歷這項(xiàng)測試。半導(dǎo)體器件高溫工作壽命試驗(yàn)，即利用高溫，電壓加速的方式，在一定時(shí)間內(nèi)通過加速測試，來預(yù)估這個(gè)電子器件在未來長時(shí)間內(nèi)的正常工作的壽命，即電子器件的生命周期的預(yù)估。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備高溫工作壽命試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的高溫工作壽命試驗(yàn)服務(wù)。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備高溫工作壽命試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的高溫工作壽命試驗(yàn)服務(wù)。
半導(dǎo)體器件高溫工作壽命試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備高溫工作壽命試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的高溫工作壽命試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)方式
根據(jù)對應(yīng)的壽命試驗(yàn)規(guī)范規(guī)定，在壽命試驗(yàn)的開始、每個(gè)中間臨時(shí)過程的節(jié)點(diǎn)和壽命試驗(yàn)結(jié)束后需進(jìn)行測試。 臨時(shí)測試和最終測試可以包括高溫測試。然而，升溫測試只能在指定室溫（和更低）測試之后。
臨時(shí)測試后，在實(shí)驗(yàn)室升溫前或移入高溫實(shí)驗(yàn)室10分鐘之內(nèi)應(yīng)加載偏置。去除偏置96h內(nèi)完成電學(xué)參數(shù)測試，越快越好。 如果測試遇到缺乏儀器或其他要素等困難，器件上的偏置應(yīng)當(dāng)保留，可以延長偏置應(yīng)力壽命，或者在室溫下對器件施加偏置直到滿足96h的期限。
臨時(shí)測試后，在實(shí)驗(yàn)室升溫前或移入高溫實(shí)驗(yàn)室10分鐘之內(nèi)應(yīng)加載偏置。去除偏置96h內(nèi)完成電學(xué)參數(shù)測試，越快越好。 如果測試遇到缺乏儀器或其他要素等困難，器件上的偏置應(yīng)當(dāng)保留，可以延長偏置應(yīng)力壽命，或者在室溫下對器件施加偏置直到滿足96h的期限。
