GB/T 2424.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗
GB/T 2423.59-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
IEC60068-3-2：1976基本環(huán)境試驗規(guī)程第3部分：背景資料第2節(jié)：溫度/低氣壓綜合試驗
IEC 60068-2-38： 2009（第2版） 環(huán)境試驗第2-38部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗

電子電工產品綜合環(huán)境試驗就是在經濟和技術條件允許的情況下，盡可能在實驗室內再現(xiàn)產品在實際儲存、運輸、使用條件下所經歷的各種環(huán)境及其變化情況。
常用的綜合環(huán)境試驗主要有溫度與低氣壓綜合試驗，溫度與機械環(huán)境綜合試驗和溫度、濕度與機械環(huán)境綜合試驗。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產品的環(huán)境試驗能力，為電工電子產品提供專業(yè)的綜合環(huán)境服務。

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1、溫度/低氣壓綜合試驗：低溫低氣壓試驗、高溫低氣壓試驗
2、溫度/低氣壓/低氣壓綜合試驗
3、溫度/濕度組合循環(huán)試驗
4、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗
5、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合試驗
6、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗