1、恒應(yīng)力狀態(tài)試驗
試樣在恒應(yīng)力狀態(tài)暴露期間，溫度變化應(yīng)十分緩慢以防止試樣損壞。用高溫試驗或濕熱試驗時，溫度變化階段應(yīng)保持最大的相對濕度，并在有關(guān)規(guī)范中說明試樣上是否可出現(xiàn)結(jié)露（冷凝）現(xiàn)象。
包括：低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、凝露試驗
2、循環(huán)暴露試驗
當(dāng)執(zhí)行溫度漸變試驗和溫度突變試驗時，試樣溫度與試驗箱（室）溫度的溫差應(yīng)在3K之內(nèi)，并持續(xù)到規(guī)定的停留時間再結(jié)束。對于某些大型試樣，如果規(guī)定的停留時間無法滿足要求，可以進(jìn)行預(yù)測試，以確定所需的停留時間。
包括：溫度漸變試驗、溫度突變試驗、循環(huán)濕熱試驗

光學(xué)和光子學(xué)儀器低溫高溫濕熱試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、氣候、機(jī)械、化學(xué)和電氣（包括靜電）等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗等環(huán)境試驗服務(wù)。

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GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：術(shù)語、試驗范圍
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
ISO 9022-2：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
KS B ISO 9022-2：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
DIN ISO 9022-2：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱
BS ISO 9022-2：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第1部分：低溫、高溫、濕熱

所有光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）