GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GJB 150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)
GB/T 2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和試驗B（帶負(fù)載）用溫度試驗箱的測量
IEC60721（所有部分）環(huán)境條件分級
GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
SC/T 7002.2-2016 漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法 高溫
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

高溫試驗是把試樣暴露在高溫且空氣干燥的環(huán)境中進(jìn)行的試驗，其目的是確定軍民用設(shè)備在高溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性。高溫試驗作為最常用的試驗，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗、壽命試驗、加速壽命試驗、評價試驗、同時在失效分析的驗證上起重要作用，其技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時間、上升速率。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設(shè)備，具備高溫試驗等能力，為各類元器件和整機(jī)提供專業(yè)的高溫試驗服務(wù)。

健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設(shè)備，具備高溫試驗等能力，為各類元器件和整機(jī)提供專業(yè)的高溫試驗服務(wù)。

1. 計算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等
2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等
3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備
4.其他：包裝箱、運輸設(shè)備等